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Sypnosys极致EDA工具TetraMAX II 芯片测试时间缩短十倍

导读: 其实,芯片行业有许多让人感觉非常“蛋疼”的事情,比如芯片集成度越高,测试耗费时间越长,一颗几千万门的芯片估计要跑二十天以上才能完成测试;芯片的工艺制程越高,流片的费用越让人抓狂,28nm工艺流片费用至少千万元以上……而这些也正是许多企业对芯片行业“望而生畏”的原因。

  OFweek电子工程网讯:其实,芯片行业有许多让人感觉非常“蛋疼”的事情,比如芯片集成度越高,测试耗费时间越长,一颗几千万门的芯片估计要跑二十天以上才能完成测试;芯片的工艺制程越高,流片的费用越让人抓狂,28nm工艺流片费用至少千万元以上……而这些也正是许多企业对芯片行业“望而生畏”的原因。

  不过,在芯片从规划、设计到流片生产的过程中,EDA工具的作用不言而喻,可谓是推动芯片行业发展的重要因素之一。作为EDA工具行业的大厂商之一,Sypnosys于7月18日在深圳发布了最新的EDA工具——TetraMAX II,旨在帮助企业进一步简化芯片的测试。

sypnosys Product Marketing Manager Robert Ruiz

  图:sypnosys Product Marketing Manager Robert Ruiz

  那么,TetraMAX II到底做了哪些突破性的进展呢?

  简单而言,TetraMAX II实现了三大优势,首先将运行速度提高至少一个数量级,使ATPG从数天的运行时间缩短到只有几个小时;其次生成的向量数量减少25%,使企业能够缩短测试时间并减低成本,在不影响测试成本的前提下提升测试质量;最后实现所有服务器内核(无论设计尺寸如何)的充分利用,打破了受限于高内存的解决方案。

TetraMAX II的三大优势

  图:TetraMAX II的三大优势

  因此,Synopsys设计集团执行副总裁兼总经理Antun Domic表示:“TetraMAX II提供了创新性和突破性的测试技术,满足客户对更快ATPG和诊断的需求,以及减少硅晶测试时间。所以TetraMAX II已经被许多国际厂商接纳,应用于提升芯片测试的效率,加快芯片推向市面的时间。”

  实际上,汽车制造商为了减少事故的发生,正在快速部署先进的技术,比如驾驶辅助系统(ADAS)。不过,由于这些系统中的故障可能导致非常严重的后果,需要汽车制造商与其供应商合力提升芯片的质量、可靠性和功能安全,同时尽量减小对测试成本和测试向量生成时间的影响。TetraMAX II已经通过认证,符合ISO 26262汽车功能安全标准,甚至是最为严格的汽车安全完整性等级(ASIL D)要求。

  SGS-TüV Saar GmbH功能安全软件部门产品经理Gudrun Neumann说:“符合ISO 26262认证资格的工具,可以帮助提高工程师对于EDA软件工具的信心,放心地为电子安全系统开发汽车IC。工具达到ISO 26262最严格的ASIL D应用要求,IC设计团队就能促进产品符合整体功能安全认证要求。”

  另外,意法半导体数字及混合工艺ASIC部SoC集成和DFT方法经理Roberto Mattiuzzo表示:“在过去几年中,ST与Synopsys通力合作,共同应对复杂性、成本增加等日益严重的测试挑战。TetraMAX II生产测试向量的速度加快了一个数量级,同时在不造成任何覆盖损失的前提下大幅减少了向量的数量。因此,ST面对高密度的FD-SOI芯片过程中,有信心更快的完成测试,并且缩短芯片上市时间。”

  最后,东芝设计技术开发部高级经理Kazunari Horikawa表示:“较长的ATPG运行时间以及日益增长的测试向量数量带来越来越大的挑战。因此,要保持测试质量的同时实现测试成本最小化,就需要减少测试向量并缩短运行时间。TetraMax II在保持测试质量的同时,能够缩短ATPG执行时间,并将测试向量的数量减少高达50%,能够最大程度的降低我们在SoC测试上的成本。”

责任编辑:Alvin
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