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设计测试

吉时利推出4225-PMU超快I-V测试模块

吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。

设计测试 | 2010-03-30 16:04 评论

可实现更好信号完整性的差分晶圆探测解决方案

安捷伦科技公司日前宣布推出 12 GHz 差分晶圆探测解决方案。该细线探针是一个高保真度、宽带宽解决方案,允许研发和测试工程师使用示波器对高速有源集成电路进行调试和测试。

设计测试 | 2010-03-30 16:02 评论

单机实现三大基本特征分析功能的C-V测量系统

吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。

设计测试 | 2010-03-30 16:00 评论

新型自动化测量读数(AMP)传输器

无线遥感勘测专家Radio-Tech开发了一种低价的自动测量读数(AMR)传输器,可对能源和水资源使用进行楼内和楼外两种方式监测。

设计测试 | 2010-03-30 15:58 评论

安捷伦推出InfiniiVision 7000 系列示波器

 安捷伦科技公司推出 14 款最新型号的 InfiniiVision 7000 系列示波器,进一步扩展其混合信号示波器和数字存储示波器产品系列。

设计测试 | 2010-03-30 15:57 评论

具有硬件加速“搜索和导航”功能的示波器

安捷伦科技公司宣布推出 14 款最新型号的 InfiniiVision 7000 系列示波器,进一步扩展其混合信号示波器和数字存储示波器产品系列。

设计测试 | 2010-03-30 15:56 评论

鼎阳科技推出2M存储深度SDS1000CM系列示波器

SDS1000CM系列是siglent厚积薄发强势推出的一款数字示波器,实时采样率高达1G,最大带宽高达150MHz,拥有同级别产品中最大的2Mpts存储深度,6M记录长度的波形记录仪,最长可以连续记录33.33小时,人性化的操作界面,PC远程控制支持

设计测试 | 2010-03-30 15:55 评论

手持式测量仪器展风采

测试测量仪器被广泛应用于电子设备行业,其用户也涵盖了包括消费电子、汽车、国防、教育、政府、半导体制造、通信等诸多行业。

设计测试 | 2010-03-30 15:53 评论

泰克CCBN展出三网融合下的数字视频解决方案

 泰克公司日前宣布,将在3月23至25日于北京举行的第十八届中国国际广播电视信息网络展览会(CCBN 2010)上全面展出泰克公司的最新产品及解决方案,其中包括新发布的QAM400A QAM/传输流监测仪,帮助迎接三网融合下的视频挑战。

设计测试 | 2010-03-30 15:52 评论

建立集成视觉和机器人的化妆品包装生产线

 确定脸部粉刷位置和方向,对其进行质量控制,并对机器人系统进行编程,让机器人拾起刷子,将其放在一个8槽梭子的粉盒中。

设计测试 | 2010-03-30 15:51 评论

NI发布相位相干射频测量解决方案

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)于3月1日推出针对多通道多输入多输出(MIMO)射频设计和测试应用的NI PXIe-5663E 6.6 GHz RF矢量信号发生器和NI PXIe-5673E 6.6 GHz RF矢量信号分析仪。

设计测试 | 2010-03-30 15:49 评论

Optametra和力科展示PM-QPSK测试方案

力科公司和连续光信号分析仪的主要供应商Optametra,在3月23~25日圣迭戈举办的OFC/NFOEC 1406展位上展示合作方案。

设计测试 | 2010-03-30 15:48 评论

泰克和Optametra共同解决100G光测量挑战

泰克公司日前宣布,泰克DPO72004B示波器精确的快速采集系统与Optametra公司的OM4105和OM4106相干光波信号分析仪相结合。

设计测试 | 2010-03-30 15:45 评论

NI:测试测量行业的发展趋势浅析

多年来,作为测试测量行业的创新者和虚拟仪器技术的领导者,美国国家仪器National Instruments一直致力于为工程师和科学家们提供一个通用的软硬件平台,用于科技应用和工程创新。

设计测试 | 2010-03-30 15:42 评论

测试测量行业巨头探索用户体验营销服务模式

苹果——这家消费类巨头的设计和营销非常推崇用户体验模式,因而取得了巨大的成功,在市场上独占鳌头。

设计测试 | 2010-03-30 15:41 评论

力科USB3.0暨SATA3.0端到端测试技术研讨会

日前,由美国力科公司在上海、深圳两地举办的USB3.0暨SATA3.0端到端测试技术研讨会热闹非凡,特别是USB3.0测试技术受到热烈关注。

设计测试 | 2010-03-30 15:39 评论

泛华测控与各行业公司共襄可靠性工程技术盛会

2009年12月2日—以可靠性工程技术为主题的“可靠性技术与应用论坛峰会”在北京隆重召开。此次会议旨在为各行业专家及工程师们构建对可靠性技术进行探讨与沟通的平台。

设计测试 | 2010-03-30 15:38 评论

参加查科深上海技术研讨会,构建竞争优势

CheckSum亚洲团队正计划于12月16日在中国上海举行一个技术研讨会。特别致力于对成本敏感的中国测试设备市场,一天的活动将见证该测试解决方案专家盛邀客户,现场了解为什么他们能在现今严峻的经济形势下从CheckSum受益,改进其测试工艺的同时削减成本,并使投资回报最大化。

设计测试 | 2010-03-30 15:37 评论

泛华测控“LabVIEW编程技巧”研讨会在沪举办

2009年12月10日—泛华测控成功在沪举办了LabVIEW方面的实战技巧研讨会。

设计测试 | 2010-03-30 15:36 评论

东方集成:电子测试测量租赁热

北京东方集成,中国电子仪器行业中综合性服务商的佼佼者,拥有 3.5万种型号、50万台件、价值55亿人民币的测试仪器和设备库存,早在2007年就成为国内测试仪器租赁市场的领跑者。

设计测试 | 2010-03-30 15:34 评论
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