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解决LTE手机射频信道衰落测试方案

导读: 本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法,这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本,同时提高测量精度并缩短测试时间。

  随着全球蜂窝通信网络运营商逐步采用Lte,满足所有LTE要求的需求也在增长,其中包括衰落特性。第三代合作伙伴计划(3GPP) 在其TS 36.521-1标准中规定了衰落的技术规格,用以测量LTE手机的衰落特性。

  传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源,通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显着增加了整个测试系统的成本,并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法,这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本,同时提高测量精度并缩短测试时间。

  模拟信号衰落

  如图1所示,实际系统环境下,发射机与接收机之间存在无数条路径。显然,不可能模拟所有路径,但为了满足测试目的,那些损耗明显大于“最佳”路径且对接收信号质量造成负面影响的路径将,我们将其忽略。同样,延迟较长的路径,也会产生很高损耗,不需要进行模拟。根据具有相似延迟的一组路径,以及多普勒频移效果的统计可进一步简化模拟。而 Aeroflex 等效于基带信号的射频(RF)转换,也许是最简单的一种方法。

 

图1 无线通信系统中的“衰弱”现象,源于多路径信号传输

  如图2(a)所示,射频信道仿真一般采用两种仪器进行测试,即衰落模拟器和加性高斯白噪声(AWGN)源。衰落模拟器模仿基站与用户设备之间随时间变化的射频路径,AWGN信号源模仿其他小区或用户产生干扰。

 

图2 传统的衰弱测试方法和Aeroflex 700射频测试仪相比较

 

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