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3000V数字源表向高功率半导体测试提供1Fa电流测量精度

2012-04-20 10:59
苏子言岁月
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  2657A能通过兼容现有高压测试应用的标准安全高压(SHV)同轴电缆连接至测试系统的其它仪器。但Mark Cejer强调说,对于需要从测量仪器的小电流测量中实现性能最大化的应用而言,如果能提供专门的高压三轴(防漏电)连接,以最佳化仪器的测量准确度将更为理想。

  为此,Keithley专门推出了新型8010高功率器件测试夹具选件,能连接高达3000V或100A的测试封装高功率器件,可以更安全、更容易地配置包含高电压2657A,一台或两台大电流2651A测量仪器以及多达3台低功率SMU仪器(其它2600A系列仪器或4200-SCS半导体特性分析系统)的器件测试系统。

  除了标准的香蕉头跳线外,8010的后面板示波器和散热探针端口简化了DUT深入特性分析的系统集成。8010具有完整的安全互锁功能。为防止在发生器件故障时损坏测量仪器,8010的集成保护电路防止2600A系列仪器的较低电压输入端口被2657A输出的高压损坏。而且,独立保护模块简化了多台SMU与第三方探测台、元器件机械手或其它测试夹具的连接。

  无需安装软件或使用吉时利基于LXI的I-V测试软件工具TSP Express编程就能实现基本的器件特性分析。用户只需将PC连接至LXI LAN端口并用任意支持Java的Web浏览器即能访问TSP Express。测试结果可以用图形方式或列表方式查看,然后导出为电子表格应用的.csv文件。2657A提供创建测试序列的两种附加工具:测试脚本生成器应用(用于创建、修改、调试、运行和管理TSP脚本)和基于IVI的LabVIEW驱动程序(简化了将2657A集成至LabVIEW测试序列)。

  ACS软件基础版也是元器件特性分析的一个选件。最新发布版具有的丰富特性便于分析高电压和大电流元器件。已更新的附带测量库用于支持高压2657A和大电流2651A高功率数字源表的直流和脉冲工作模式。通过测试大多数器件的输入、输出和传输特性,这些测量库支持FETs、BJT、二极管、IGBTs等各种功率器件。一种特殊的“追踪模式”用简单滑动条实现对仪器电压或电流输出的实时控制。

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