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Synopsys将HAPS纠错可见度提升100倍

导读: 新思科技公司(Synopsys, Inc.)日前宣布:为其HAPS基于FPGA原型系统的用户推出新版的Deep Trace Debug深度追踪纠错软件。

  新思科技公司(Synopsys, Inc.)日前宣布:为其HAPS基于FPGA原型系统的用户推出新版的Deep Trace Debug深度追踪纠错软件。借助HAPS Deep Trace Debug,原型工程师可利用比传统FPGA 片上逻辑纠错器所用的存储器高出将近100倍的信号存储容量。新的深度追踪纠错功能同时增强了容量和故障隔离性能,同时释放片上FPGA存储器来满足验证复杂的系统级芯片(SoC)设计之需求。

  为确保高速接口设计的正确功能,在几毫秒内通常需要获得几十个采样点。传统上,设计师不得不做出选择:以消耗大量的FPGA存储资源来捕获冗长的信号追踪历史记录,还是丢失信号追踪历史记录的细节可见度来节省FPGA存储资源。通过将Synopsys Identify智能集成电路仿真器(IICE)与一个HAPS Deep Trace Debug SRAM子板配对,HAPS Deep Trace Debug允许许多独特的带有复杂触发条件的信号探点可被记录,并且在系统执行时存储大量状态历史记录来提供更深的记录。SRAM子板也可释放FPGA 片上RAM,使其用于为SoC设计的存储模块提供原型。

  供货与资源

  新思科技的Identify RTL debugger软件和HAPS Deep Trace Debug SRAM子板现在都已经支持HAPS Deep Trace Debug。更多信息,请访问: http://www.synopsys.com/HAPS。

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