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ARM菜鸟:JLINK与JTAG的区别

2013-03-28 10:54
吃瓜天狼
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  调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种。当仿真时,IAR、KEIL、ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法:

  1.在电脑上写一个服务程序,把IAR、KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气物理层上的转换,就像RS232那样的作用)发送你的的目标板。H-JTAG就是这样的。H-JTAG的硬件就仅是一个物理电平的转换接口,所以很简单。而电脑中装的h-JTAG软件就是前面说到的服务程序,负责协议转换的。

  2.做一个板,用此板直接接收来自IAR、KEIL和ADS等软件的调试命令,由此板做RDI->JTAG协议的转换。然后与目标板通信,这就是JLINK的工作原理。

  由上可以看出H-JTAG由于是软件作协议转换的,所以速度较慢,但是硬件简单。而第二种方法的JLINK一般带一个强劲的CPU,作硬件协议转换,把以硬件复杂,但速度快。

  JTAG的基本原理

  JTAG(JointTestActionGroup,联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1兼容)。标准的JTAG接口是4线——TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

  JTAG的主要功能有两种,或者说JTAG主要有两大类:

  1)一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;

  2)另一类用于Debug,对各类芯片以及其外围设备进行调试;一个含有JTAGDebug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器、挂在CPU总线上的设备以及内置模块的寄存器。本文主要介绍的是Debug功能。

   JTAG原理分析

  简单地说,JTAG的工作原理可以归结为:在器件内部定义一个TAP(TestAccessPort,测试访问口),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试。首先介绍一下边界扫描和TAP的基本概念和内容。

  边界扫描

  边界扫描(Boundary-Scan)技术的基本思想是在靠近芯片的输入/输出引脚上增加一个移位寄存器单元,也就是边界扫描寄存器(Boundary-ScanRegister)。

  当芯片处于调试状态时,边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入/输出隔离开来。通过边界扫描寄存器单元,可以实现对芯片输入/输出信号的观察和控制。对于芯片的输入引脚,可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号(数据)加载到该引脚中去;对于芯片的输出引脚,也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”该引脚上的输出信号。在正常的运行状态下,边界扫描寄存器对芯片来说是透明的,所以正常的运行不会受到任何影响。这样,边界扫描寄存器提供了一种便捷的方式用于观测和控制所需调试的芯片。另外,芯片输入/输出引脚上的边界扫描(移位)寄存器单元可以相互连接起来,在芯片的周围形成一个边界扫描链(Boundary-ScanChain)。边界扫描链可以串行地输入和输出,通过相应的时钟信号和控制信号,就可以方便地观察和控制处在调试状态下的芯片。

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