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全方位解析USB 3.0测试方法(上)

  发射机一致性测试

 

  通过使用各种测试码型以帮助进行发射机测试 (表2)。每种码型都是根据与评估码型的测试有关的特点而选择的。CP0(一种D0.0加扰序列)用来测量确定性抖动(Dj),如数据相关抖动(DDJ)。CP1(一种未加扰D10.2全速率时钟码型)不生成DDJ,因此更适合评估随机性抖动(RJ)。

 

  表2. SuperSpeed USB 发送端一致性测试码型

 

 

  抖动和眼高的测量是通过对100万个连续比特(UI)进行分析而得到,需要使用均衡器功能和适当的时钟恢复设置(二阶锁相环、或称为PLL,10 Mhz环路带宽,0.707的阻尼系数)。通过分析被测数据样本,可以外推出10-12误码率(BER)下的抖动值。例如,通过外推算法,把测得的RJ (rms)乘以14.069,可以得到10-12误码率下RJ(PK-PK)。

 

  

  图2. 标准化发射机一致性测试设置,包括参考测试通道和线缆。测试点2 (TP2)距被测器件(DUT)最近,测试点1 (TP1)是远端测量点。

  在TP1采集信号后,可以使用SigTest软件处理数据,这与PCI Express官方的一致性测试方法类似。对需要预测试一致性、检定或调试的应用,希望可以进一步了解电路在各种条件或参数下的特点。装有USB 3.0分析软件的高带宽示波器提供了Normative和Informative方式的物理层发射端自动测量。省掉了手动配置的步骤,大大节约了测量时间。

  在测试完成后,详细的Pass/Fail测试报告标记出哪里可能发生设计问题。如果在不同测试地点(如公司实验室、测试中心)结果不一致,可以使用之前测试时保存的波形数据重新分析(离线测量)。

  如果要求更多的分析,可以使用抖动分析和眼图分析软件,调试和检定电路。例如,可以一次显示多个眼图,允许工程师分析不同时钟恢复设置或软件通道模型的影响。此外,可以使用不同的滤波器,分析SSC的影响,解决系统互操作能力问题。

 

  均衡考虑因素

 

  由于明显的通道衰减,SuperSpeed USB要求某种形式的补偿,张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术,其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5 dB,用线性单位表示为1.5倍。例如,在跳变比特电平为150 mVp-p时,非跳变比特电平为100 mVp-p。

  CTLE标准均衡实现方案包括片内技术、有源接收机均衡或无源高频滤波器,如线缆均衡器上使用的滤波器。这一模型特别适合一致性测试,因为它非常简便地描述了传输函数。CTLE通过频域中的一系列极点和零点,在特定频率上达到峰值(Peak)。

  CTLE实现方案的设计要比其它技术简单,能耗要低于其它技术。然而,在某些情况下,由于适应性、精度和噪声放大方面的限制,仅仅使用CTLE实现方案可能是不够的。其它技术包括前向反馈均衡(FFE)和判定反馈均衡(DFE),通过对数据样点加权一些补偿系数来补偿通道损耗。

  CTLE和FFE是线性均衡器。因此,这两种技术都会提升高频噪声,而产生信噪比劣化。但是,DFE在反馈环路中使用非线性元器件,使噪声的放大达到最小,补偿码间干扰(ISI)。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps 信号,和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。

 

  

  图3. 去加重(蓝色)、长通道(白色)、CTLE (红色)和三阶DFE (灰色)对5-Gbit/s信号(黄色)产生的不同效果。

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