基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用
2017-11-21 09:18
来源：
先锋科技（香港）股份有限公司
X－RAY盘料点数机：
面向电子行业领域阻容类物料和IC类物料等的物料计数。
一、基于X－Ray的盘料点数机和传统点料机区别
X－RAY盘料点数机的操作软件功能丰富且简便易学，软件根据产品类型自动进行图像判断计数；同时可选择手动或自动将物料类型、计数结果、检测时间、扫描次数等数据保存到本机数据库；可提供数据查询功能；并提供手动保存产品图像等功能。
传统的点料方法：
1．原理：
传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出，连接到带有收料盘的装置上，经过不同方式的传感器，通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数，从而实现物料点数工作。
2．局限性：
（1）此种方式点数周期长，若提高收料装置的牵引速度，可以一定程度上提高效率，但对物料包装的要求较高，以确保料带能够承受较大的拉力，物料的包装成本需要提高，所以由于牵引速度的限制，制约了点料速度的提高；
（2）若封装空间里没有物料，此种方法会出现误判，从而影响点数精确度。
X－Ray点料方法：
利用X光大角度透视的原理，得到盘料的X－Ray图像，通过软件分析，得到计数结果，相比传统的点料方式，大大的提高了工作效率，节约人工成本。
原理示意图
X－RAY盘料点数机重点构件：CMOS平板探测器
针对X－Ray点料机应用，先锋科技（香港）股份有限公司可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器，满足您多方面的需求。
CMOS平板探测器，我们提供多种感应面积供选择，有12cmx7cm；15cmx12cm；23cmx7cm；23cmx15cm；29cmx23cm．最小像元尺寸75um。
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